FORMULA HF Ultra 测试系统
FORMULA® HF Ultra 测试系统是我们FORMULA® HF 超大规模集成电路高频测试系统航线中的旗舰。
目标和应用
FORMULA® HF Ultra 测试系统是一个用于超高频超大规模集成电路功能和参数测试的ATE。
FORMULA®应用是超大规模集成电路的质量控制、新开发的超大规模集成电路的测试和研究以及串行产品的生产监控。
FORMULA® HF Ultra 满足微电子测量测试中计量标准的要求。
主要技术特征
FORMULA® HF Ultra 测试系统是为广泛的超大规模集成电路的可靠测量和测试而设计的。
ATE的主要技术特征是：
- 通用双向通道数—高达1024
- 功能测试频率—每频道高达550 MHz
- 精密振荡器参考频率—1200 MHz
- 矢量/误差记忆—高达128M/ 128M向量
- DAC/ADC measurement unit — 1200 MOPS/24 bit
FORMULA® HF Ultra 测试系统是超大规模集成电路功能完备的自动化测量手段并提供：
- 对测量和试验设备的高度准备
- 测量过程和数据管理各个阶段的自动化
- 大容量多点模式
- 带有自动探针、自动装载机、测试设备和仪器的操作模式
- 昼夜操作的可靠性
- 用户友好、功能齐全的软件
- 快速互换测量附件
- 自动诊断和计量校准
FORMULA® 具有模块化总线结构，通过选择与符合测试和测试任务范围的一级和二级设备，实现设备自定义配置的原则。
FORMULA® HF Ultra 主要子系统
1024个每个频道频率高达550兆赫频道的功能测试系统包括：
- 超大规模集成电路功能测试的随机测试序列发生器
- 测试高速存储器超大规模集成电路和其他常规逻辑的算法测试生成器
FORMULA®功能测试子系统的特征使其成功在具有高达1600–1700输出的测试超级集成超高频电路中使用，如ASIC和FPGA。
在一个测量周期中，通过功能测试和算法测试方法，为超大规模集成测试电路提供了一种同时使用的测试序列发生器和算法测试生成器
参数测量子系统包括： 具有以下特性的静态电参数再现和测量的子系统：
- 再现四电平信号的范围，包括电压范围从–1.5 V到+13 V的每个独立通道的差分信号
- 测量源范围：
| 范围 | 来源 | 数量 |
|---|---|---|
| 0…+6 В; ±250 μA … ±4 А | VCC 测量电源供应 | 32 |
| –2…+15 В; ±200 nA … ±400 mA | VDD 测量电源供应 | 32 |
| –2…+13 В; ±200 nA …±150 mA | PMU 多道米 | 32 |
| –2…+11 В; ±2 μA … ±32 mA | PPMU 单道米 | 1024 |
| -17…+17 V; –500 mA…+500 mA | HVDD 测量源 | 8 |
| 大功率超大规模集成电路专用电源 (多核处理器、FPGA和其他高功耗微电路) | ||
| 4.5 V/20 А | LVDD 大功率电源供应 | 2 |
| 3.5 V/50 А/100А | SPS 能源供应 | 1 |
单通道PPMU米的使用使在底座和外壳上都实现微电路并行高速测试多点模式。
HVDD供应可使用于FLASH和ROM程序上，也可用于测试模拟微电路及运算放大器和比较器。
超大规模集成电路动态参数测量的精密子系统能够测量信号的传播延迟时间、脉冲宽度、前沿和后缘，以及根据以下特性确定的超大规模集成电路的其他时间特性：
- 输入脉冲后缘生成（IEPA） ±150 picosec
- 输出脉冲后缘测试（OEPA）±250 picosec
- 整体定时精度（OTA）±250 picosec
- 脉冲前缘和后缘最小持续时间 – (275±150) picosec
子系统以ATE的通用测量工具为基础。
在接收/传输周期内的信号失真补偿独立于每个通道和可编程生成的信号前导/尾随边缘斜坡，斜坡范围从100%到25%，这是通过通道独立编程和实施的，被提供用来保护脉冲波形和连接到正在测试的微电路的需求。
BIST 技术
考虑到开发人员需要在测试模型阶段执行超大规模集成电路的电路测试，FORMULA® HF Ultra测试系统可以使用BIST技术。JTAG端口集成到支持所有标准功能性能的ATE，包括将配置文件放置在FPGA中，以及为此使用的将JAM PLAYER与STAPL语言支持相集成。
ARP 模拟测量单元
FORMULA® 测试系统，配有用于组合式微电路测量的精密模拟数字单元（DAC和ADC）： 1200 MHz/1200 MOPS/(–10…+10) V，这使得能够在当频率高达260MHz的周期信号形成于其输入端时，测量高达14-bit的高速ACD微电路的动态和静态转换参数，并测量高达16-bit低频DAC和ADC微电路的静态转换参数。ARP单元包括以下功能设备：
- 精密双通道时钟脉冲发生器高达1200 MHz
- 具有高频、低频信道和转换频率的随机波形发生器高达1200 MOPS
- 双精度20/24-bit参考电压源带电压范围–10 V 到+10 V
使用 FORMULA® HF Ultra 来为外部扰动测试超大规模集成电路
FORMULA® 测试系统的设计、硬件和软件为测试微电路创建最佳条件，包括为伴随测量的测试，例如，使用ThermoStream单元和流动室。
不使用电缆，且信号质量不损失，温度直接影响弹簧座时，支持测量。
该系统设计中的一个优先事项是伴随最小的信号损耗和失真，为ATE开发方法，来向正在进行测试的超大规模集成电路来回传输信号。
新一代原始新生连接系统，被设计用来在正常条件和温度范围 –60 °C 至 +125 °C的条件下进行测试，专门为FORMULA® HF Ultra测试系统设计。
测量附件的可靠性、方便性、快速安装和附件及更换通过使用精密弹簧装置、大配件的专门框架和保证至少一百万个附件连接的POGO-PIN连接而实现。
ATE配备了与外部设备集成的方法，包括探针、测试设备和外部仪器。
测量单元旋转机械手有一个电子控制电子引线，它在所有操作模式中提供最佳的工作站人机工程学
FORMULA® HF Ultra 测试系统软件组合体
Test fixtures®
The FORMULA® delivery package includes standard installation frames for test boards and complete documentation for independent development of accessories by the Client.
The design of the frames permits accessories of various dimensions.
TestBox® 制定和工厂准备的测试方案
因此FORMULA®测试系统客户能够快速获取他们的商业目标并迅速地看见投资回报，FORM为测量具体类型微电路提供TestBox®测试方案的工厂准备和定制：正常条件下和在极端温度的影响下。
每一个 TestBox® 测试方案包括：
- 连接特定类型超大规模集成电路的专用工具
- 一种具有超大规模集成电路测试及测量软件的磁盘
- 一个具有 TestBox® 操作手册数据表
- 制造商的保修
一批经验丰富的工程师在我们测试实验室为测试方案开发设计和软件。TestBox®测试方案的质量是他们符合欧洲央行和电子元件规定、技术要求及客户要求的结果。
通过购买 TestBox®, 客户可以显著减少把他们的产品投入市场所需的时间。
如今，已经开发了超过550种测试方案，用于 FORMULA® 测试系统客户端，为电子元器件的质量控制提供了始终如一的计量支持
Testbox
制造商服务
为减少客户用于支持工作的时间和成本，FORM为 FORMULA® HF Ultra测试系统客户提供以下技术服务：
- 通过连接外部设备、仪器和IT网络将 FORMULA® HF Ultra 测试系统综合到客户的技术、信息和测试基础设施
- 在ATE操作所在地的进行定期维护、修理和计量服务
- 组织以 FORMULA® HF Ultra 测试系统为基础且带有确保测量可追溯的数据库的工作站
- 根据典型选项列表或自定义开发选项来扩展ATE配置
FORMULA® 测试系统交付组件
FORMULA® HF Ultra 测试系统具有模块总线结构并允许根据测量方法的类型说明中所示的设计版本定制硬件和软件配置
每一个测试系统配置是基于对客户的任务、需求和偏好的分析而确定的，并反映在交付规范以及每个测试系统的数据表中。
交付组合包括完整的操作和计量文件和初步校准证书。
制造商保证和操作员支持
FORMULA® 测试系统保修服务和运营维护由开发人员及制造商FORM提供。
硬件保修1年且提供免费工程师前往为保修准备及不定期计量校准的操作ATE的地方。
在保修期结束时，FORM为客户提供服务合同，并根据个人客户要求提供技术服务和计量服务。
FORM 技术支持服务提供给 FORMULA® 测试系统客户以下无限制免费服务：
- 在终端会议期间通过电话、电子邮件和传真进行咨询，并直接在FORM前提下。
- 投诉分析的方法学协助
- 带故障检测的远程ATE诊断
- 更新软件版本
- 安排维护和修理
- 新的ATE选项和新测试方案的信息
交付时间和价格
FORMULA® HF Ultra 测试系统交货时间根据配置从9到15周。
价格包括：
- 1 年保修
- 交付装置和客户机上与ATE的连接给客户地址
- 客户人员培训遵照FORMULA® ATE操作和测试程序开发
- 应用 TestBox® 测试方案进行测试系统的调试
