Testbox

为了保证尽快引入FORMULA(注册商标名)测试系统,尽快收回投资,FORM公司向用户提供“测试盒”(注册商标)测试方法,用于测量特定种类的电子元件。

TestBox(测试盒——注册商标)常规型和标准型测试方法

每个“测试盒”都是一套全包装产品,可把FORMULA(注册商标名)测试系统变成一个完好的工作站,用于测量电子元件。

  • 外壳内和水上
  • 多点组合测试模式
  • 自动装料、自动探头
  • 正常条件下,极限温度下,均可工作(热流、流体室、冷热室)
  • 在受到其它外来因素影响下的测试模式。每套“测试盒”都是一套专业的硬件和软件组合,随时可用。包括:
“测试盒”测试方法的质量,取决于它符合电子元件和产品的标准、技术要求和用户规格。
“测试盒”测试方法,可以作为测试系统的一部分而发货,也可在设备的寿命周期内任何时候单独发货。

在受到其它外来因素影响下的测试模式。每套“测试盒”都是一套专业的硬件和软件组合,随时可用。包括:

  • 连接特定种类的电子元件的专用固定结构
  • 包含“测试盒”测量软件的一张专用光盘
  • 一份数据单和使用手册
  • 制造厂保证书
  • 制造厂的技术支持

“测试盒”数据库

经过多年的工作,我们创建了完善的测试方法的整个数据库,用于测试多种电子元件,包括数百种“测试盒”。数据库的内容,以及类似的外国产品,在附件中提供。

这个数据库在不断升级中。测试方法和软件,是由我们委托的实验室的几位经验丰富的工程师,开发出来的。FORM公司制造、提供、并保证“测试盒”工作中的技术支持

至今,我们开发出了550多种测试方法,被FORMULA测试系统的用户们,广泛采用,提供电子元件质量控制中的测量一致性。

当购买带有“测试盒”的测试系统后,用户立即就能开始测量微电路,显著缩短交付产品的时间,并降低质量偏差漏检风险。

创建常规的“测试盒”测试方法

除了提供来自“测试盒”的全套完好的数据库,我们还根据用户的规格,开发并生产常规的测试方法。

常规的“测试盒”测试方法开发和提供周期包括:

  • 对需要测试的参数、测量测试模式要求,进行评估
  • 与附加要求的设备(自动探针、自动装料、流体室,等)的供应商协调,评估并商定要求的集成方式。
  • 与用户制订测试方法的技术任务和协议。
  • 开发测试方法,包括提交设计和操作文件
  • 技术维护和支持。
  • 测试方法的生产、排除故障、验证。
  • 测试方法的实验批次(用户提供)验证,包括:由FORM公司委托的实验室,出具测量记录和测试方法数据单。
  • 把测试方法提交给用户,按照约定程序进行验收。
  • 测试方法、设计文件和电子元件测试模型副本,保存备查。

交货时间和价格

成品“测试盒”测试方法的制造和交货时间,在5~30个工作日之间,常规测试方法所需时间是20~60 个工作日。

标准测试固定结构,用于测试集成微电路,用FORMULA 2K测试系统。
标准测试固定结构,用于测试半导体器件,用FORMULA TT2测试系统。
标准测试固定结构,用于测试电磁继电器,用FORMULA R测试系统。
测试固定结构,用于测试Altera STRATIX4 FPGA,用FORMULA HF Ultra测试系统。
标准测试固定结构,用于测试VLSI电路,用FORMULA HF3测试系统。
标准测试固定结构,用于测试多点模式VLSI电路,用FORMULA HF3-512 测试系统。

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