FORMULA （注册商标名）HF3 平台测试系统
应用范围
FORMULA® （注册商标名）HF3 平台测试系统
FORMULA（注册商标名）HF3 平台测试系统有两个型号： FORMULA® HF3 和 FORMULA® HF3 512， 都是用于多种高速VLSI电路的功能测试，包括：微型控制器、静态和动态存储、母片（masterslice）VLSI电路、ASIC、FPGA，等，信号输出高达256/512，工作频率高达200兆赫。
应用范围
FORMULA HF3 测试系统是一套用于测试超高频率VLSI电路的功能和参数的自动测试设备。
用于VLSI电路的质量控制、新开发的VLSI电路品种的测试和研究，以及系列产品的生产监控。
FORMULA HF3 测试系统能满足微电子领域的计量测试标准。
FORMULA HF3 平台测试系统的基本技术特性和功能
FORMULA HF3 平台测试系统是为了可靠测试多种VLSI电路而研发出来的。
这个测试系统的关键技术特性，由下列数值 确定：
- 通用双向通道数——高达256/512.
- 功能测试频率——高达200兆赫每个通道。
- 矢量/误差存储——高达64 М/64 М 矢量。
- 总体定时精度（OTA）——不超过±700皮秒。
FORMULA HF3 测试系统是测量VLSI电路用的功能完善的自动测试技术，提供：
- 准备完善的测试测量设备。
- 测量全过程和数据管理自动化。
- 自动探针、带有自动装料、测试设备和工具的操作模式。
- 高容量多点模式。
- 全昼夜连续可靠工作。
- 方便用户的全功能软件。
- 测量配件快速互换。
- 自动诊断和计量校准。
FORMULA 测试系统具有模块化常规结构，可以根据测量范围和测试任务，选配主要的和次要的配置。
技术优势
该系统的硬件、软件、设计和技术方法，保证了至关重要的测试特征和性能，适用于测试和来料检验。
本系统能够对多种VLSI电路进行全面综合测试。
FORMULA HF3/3-512系统的基本子系统
功能测试子系统包括
- 随机测试功能发生器，用于VLSI电路的功能测试。
- 算法测试发生器，用于测试高速存储VLSI电路和其它规则的逻辑电路。
高容量矢量存储（64M每个通道）和独立的误差存储（64M每个通道），能结合通道之间的存储（高达2G），并支持所有标准指令，能对实际上有限的容量，创建功能测试，对VLSI 电路的验证，提供全面的测试覆盖。
射频信号发送无变形，频率损失高达1米以上的距离，这对某些类型的测试，是非常重要的。
FORMULA® HF3测试系统通道的一个独特之处在于信号特征——头端边际和最小的脉冲延时——不取决于高达8V的幅度。
- 最小脉冲头尾边际延时——(0.7±0.15)毫微秒。
- 最小脉冲延时——(1.65±0.15) 毫微秒。
- 四级信号再现范围，包括差动信号，电压范围–1.5 V 到 +13 V，每个通道独立。
- 测量来源范围
| 范围 | 来源 | 数量 |
|---|---|---|
| 0…+6 В; ±250 μA … ±4 А | VCC 测量功率源 | 8/16 |
| –2…+15 В; ±200 nA … ±400 mA | VDD 测量功率源 | 8/16 |
| –2…+13 В; ±200 nA …±150 mA | 多通道表 | 8/16 |
| –2…+11 В; ±2 μA … ±32 mA | 单通道表 | 256/512 |
单通道PPMU表的使用，能对基体上或外壳内微电路，进行多点模式平行高速测试。
每个32通道针电子模块的高压“32通道”有高达15V的电压，可用于FLASH和ROM编程，以及用于测试类似操作放大器和比较器的微电路。
- 输入脉冲尾端边际（IEPA）的产生±150皮秒。
- 输出脉冲尾端边际（OEPA）的测试±250皮秒。
- 总体计时精度（OTA）±700皮秒。
- 脉冲头尾边际最小延时（700±150）皮秒。
- 最小脉冲延时（1.65±0.05）毫微秒。
- 时间标记设定增量是34皮秒。
鉴于开发人员需要在测试阶段，对VLSI电路进行电路内的测试，我们的FORMULA® HF超级测试系统能够采用BIST技术。一个JTAG接口，集成到自动测试系统（ATE），支持所有标准功能，包括填充FPGA的配置文档，为此，还采用了一个与STAPL语言支持集成的JAM PLAYER。
应用 FORMULA® HF3 超级系统，测试VLSI电路的外部摄动
FORMULA测试系统的设计、硬件和软件，为测试微电路，创造了最优条件，包括用于测试测量，例如，采用热流单元和流体室。
我们为 FORMULA® HF3 测试系统，专门开发了一个原创的耐热的UAP适配器，带有弹簧装置，也可用于FORMULA® HF3-512测试系统，用来测试VLSI电路，高达256 数字输出。UAP适配器上的POGO-PIN触点的小块面积，能配用紧凑的配件，降低准备测量的成本。
测量温度直接作用于弹簧基座，没有导线，没有信号质量损失。
One of the priorities in the design of the system was to develop methods for the ATE to signal transmission back and forth to the device under test (DUT) with minimal signal loss and distortion.
我们为 FORMULA® HF测试系统，专门开发了一套原创的新一代接触系统，用于在正常条件下和温度范围–60 °C 到 +125 °C之间测量。
利用精密弹簧装置，可靠、方便、快速安装、便捷装拆测量配件，为大型配件和POGO-PIN触点，有专用的框架，保证了至少一百万次配件连接。
这种自动测试设备配有外接设备接口，包括探针、测试设备和外部工具。
测量单元旋转控制器有电控接头，提供任何操作模式下最优的工作站工效条件。
FORMULA® HF3测试系统软件包
测试固定结构
FORMULA系统交货包装，包括必要的支承板的标准安装框架，和供用户独立开发配件所需的全套文件
常规的和工厂备好的“测试盒”测试方法
为了让FORMULA测试系统的用户们可以更快达到业务目标，尽快收回投资，FORM公司提供多种方案：工厂备好的和常规的“测试盒”测试方法，用于测量特定种类的微电路；在正常条件下和极端温度下。
每个“测试盒”测试方法包括
- 连接特定种类VLSI电路的专用工具
- 一张带有VLSI电路测试测量软件的光盘
- 一份带有“测试盒”操作手册的数据单
- 制造厂保证书
本公司测试实验室的经验丰富的工程师团队，开发了测试方法的方案和软件。“测试盒”测试方法是对应于ECB（英国电子部件局）规则和电子元件、技术要求和用户规格的工作成果。
现在，FORMULA测试系统的用户们，已经开发出了550多种测试方法，为电子元件的质量控制，提供稳定的计量支持。
TestBox®
制造厂的服务
为了缩短用户服务的时间，降低费用，FORM公司为FORMULA HF超级测试系统的用户们，提供如下技术服务：
- 把 FORMULA® HF3 测试系统集成到用户的技术、信息和测试设施上，包括具有外部连接设备，工具和IT网络。
- 在自动测试设备的工作地点，进行定期维护、修理和计量服务。
- 组建基于FORMULA® HF3测试系统的工作站，具有保证测量跟踪性能的数据库。
- 根据典型的选项列表，或用户的选项开发，扩展自动测试设备的配置。
FORMULA测试系统的交货配置
这个FORMULA® HF3超级测试系统，具有模块化主体结构，并可根据测量方法种类说明中所示的设计版本，修改常规的硬件和软件配置。
每个测试系统的配置，取决于用户任务的分析、需求和优先选择，也反映在交货规格单，以及每套系统的数据表上。
交货套装包括全套操作和测量文件，以及最初校准证书。
制造厂保证和操作者支持
FORM公司作为开发者和制造者，提供FORMULA测试系统保证服务和操作维护。
硬件保证期为1年，并提供工程师赴现场免费服务，进行保修和不定期的计量校准。
保证期结束时，本公司为客户提供一份服务合同，按照每个用户的要求，提供技术服务和计量服务。
本公司的技术支持服务，为FORMULA测试系统的用户们，提供下列无限期免费服务：
- 通过电话、邮件和传真，提供咨询，操作现场咨询，或来本公司咨询。
- 故障分析，方法协助。
- 远程ATE（自动测试系统）诊断，故障检测。
- 软件版本升级。
- 安排维护和维修。
- 引入新的ATE（自动测试系统）选配和新的测试方法。
交货时间和价格
FORMULA® HF3 测试系统的交货期为9~15周，取决于具体配置。
价格包含
- 1 年保证期
- 发货到用户的地址，安装、连接到用户的设施。
- 针对FORMULA自动测试设备的操作规则和测试程序开发，对用户人员进行培训。
- 应用“测试盒”测试方法，对测试系统试运行，
