Новости

Февраль 2019

14 февраля 2019
ЭлектронТехЭкспо 2019

Благодарим всех, кто посетил наш стенд

Декабрь 2018

24 декабря 2018
NEPCON JAPAN 2019

Благодарим всех за посещение нашего стенда!

Ноябрь 2018

8 ноября 2018
Electronica 2018

Мы продемонстрировали решения для входного контроля на базе популярных моделей тестеров

Октябрь 2018

30 октября 2018
Testing & Control 2018

В Москве прошла Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования

1 октября 2018
Nepcon Vietnam 2018

Посетители нашего стенда узнали о наиболее популярных моделях линейки Тестеров FORMULA

Август 2018

17 августа 2018
SEMICON Taiwan 2018

FORM attended SEMICON Taiwan in Taipei, the premier event in Taiwan for microelectronics manufacturing

Июнь 2018

28 июня 2018
Nepcon Thailand 2018 Expo, Бангкок 20-23 июня

Совсем недавно мы вернулись с международной выставки Nepcon Thailand 2018 Expo в Бангкоке

Март 2018

19 марта 2018
ELECTRONICA CHINA 2018, Шанхай 14-16 марта

Наши специалисты представили готовые решения для измерительных задач лабораторий входного контроля, дизайн-центров, серийного производства и испытаний ЭКБ

Февраль 2018

27 февраля 2018
конференция «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2018»

ФОРМ принял участие в Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой»

Декабрь 2017

1 декабря 2017
выставка Semicon Japan 2017

На стенде были продемонстрированы хорошо зарекомендовавшие себя в отрасли серийные модели Тестеров: FORMULA TT2 для контроля полупроводниковых приборов и FORMULA HF3 для контроля высокочастотных СБИС