Новости

Апрель 2017

3 апреля 2017
Участие в выставке ЭлектронТехЭкспо 25-27 апреля 2017

Мы познакомили гостей с нашей новой моделью Тестера полупроводниковых приборов – FORMULA TT3

Март 2017

22 марта 2017
Конференция «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2017»

Представители «ФОРМ» приняли участие в практической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой»

Ноябрь 2016

3 ноября 2016
Представляем вашему вниманию новую разработку: Тестер FORMULA SD

Тестер FORMULA SD – универсальное автоматизированное средство измерений статических и динамических параметров полупроводниковых приборов

3 ноября 2016
Обновленная линейка контактирующих устройств

Контактирующие устройства были разработаны специалистами нашей Компании взамен применявшимся ранее изделиям стороннего производства

Май 2016

26 мая 2016
Втрое увеличена скорость «прошивки» на Тестере FORMULA HF Ultra

Теперь начальную инициализацию наиболее высокоинтегрированных ПЛИС, таких как STRATIX4, ф.ALTERA, можно выполнить на тестере FORMULA HF Ultra через «STAPL Player» всего за 22 секунды без использования байтбластера и САПР Quartus

Апрель 2016

28 апреля 2016
ФОРМ на MetrolExpo 2016

На 12-й выставке средств измерений и метрологического обеспечения MetrolExpo - 2016 мы представили новаторский продукт – Лабораторию входного контроля iLForm

Март 2016

3 марта 2016
Ведущий журнал «Современная Электроника»

Ведущий журнал «Современная Электроника»  для специалистов, менеджеров и руководителей предприятий, занимающихся разработкой и производством электронной техники, представил статью в выпуске №3 от 2016 года «О российском средстве измерений параметров полупроводниковых приборов - FORMULA ТТ2»

Январь 2016

27 января 2016
Статья о Formula HF Ultra в журнале «Современная электроника»

Для выполнения программы импортозамещения в области СБИС требуются современные автоматизированные средства измерений, которые должны обладать не только передовыми техническими характеристиками, но и соответствовать государственным метрологическим стандартам